小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱操作： 小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用范圍:
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱操作：
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號與規(guī)格：
型號：HL-80工作室尺寸：40×50×40箱體尺寸：120×165×115
型號：HL-150工作室尺寸：50×60×50箱體尺寸：130×170×125
型號：HL-225工作室尺寸：60×75×50箱體尺寸：140×185×130
型號：HL-408工作室尺寸：60×85×80箱體尺寸：165×195×155
型號：HL-800工作室尺寸：100×100×80箱體尺寸：185×200×175
型號：HL-1000工作室尺寸：100×100×100箱體尺寸：190×210×185
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo):
1.溫度范圍：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100（150）℃
2.濕度范圍：30%～98%RH
3.溫度波動度：±0.5℃
4.溫度偏差：≤2℃
5.濕度偏差：+2-3%RH
6.升降溫速率：0.7～1℃/min
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備的使用現(xiàn)場的條件:
1.溫度：15℃~35℃
2.相對濕度：不大于85%RH
3.周圍無強(qiáng)烈振動、無強(qiáng)烈電磁場影響
4.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5.無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6.周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7.試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。
8.試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱特征:
1.本設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。
2.箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。
3.保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。本設(shè)備采用標(biāo)準(zhǔn)化多功能設(shè)計(jì)、有程序運(yùn)行和恒定運(yùn)行功能。主控制儀采用韓國進(jìn)口觸摸屏溫濕度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗(yàn)。
4.升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時(shí)功能。
5.制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。
6.加熱采用不銹鋼翅片加熱管，加濕采用不銹鋼加濕管，加濕方式為蒸汽加濕，水位自動控制。
小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn):
GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
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